每個(gè)厚度測(cè)量?jī)x器都有一個(gè)臨界厚度，如果厚度大于這個(gè)厚度，則測(cè)量不受母材厚度的影響；它對(duì)試件表面形狀的突變很敏感，因此在試件邊緣或內(nèi)角附近測(cè)量是不可靠的。試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。隨著曲率半徑的減小，它會(huì)顯著增加。因此，在彎曲試件表面的測(cè)量也是不可靠的。那么什么原因會(huì)造成一六測(cè)厚儀測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)？
1、母材和鍍層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大，表面粗糙會(huì)造成系統(tǒng)誤差和偶然誤差。在每次測(cè)量中，應(yīng)增加不同位置的測(cè)量次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體上的母材粗糙，還必須在未鍍膜的基體金屬試片上取幾個(gè)粗糙度相近的位置校準(zhǔn)儀器的零點(diǎn)，或使用不腐蝕母材的溶液溶解去除校準(zhǔn)儀器前的涂層；
2、周圍各種電氣設(shè)備產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)嚴(yán)重干擾一六測(cè)厚儀的磁性測(cè)厚；
3、探頭會(huì)使軟涂層試樣變形，因此無(wú)法測(cè)量這些試樣的可靠數(shù)據(jù)；
4、必須清除阻礙探頭與涂層表面緊密接觸的粘著物質(zhì)。測(cè)量過(guò)程中，壓力必須保持恒定，探頭與試樣表面必須保持垂直，以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測(cè)量。
5、磁法測(cè)得的厚度受基體金屬度變化的影響（實(shí)際應(yīng)用中低碳鋼的磁性能變化可以認(rèn)為是輕微的）。為避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基材相同的金屬特性的標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)儀器；
6、母材的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，母材的電導(dǎo)率與其材料成分和熱處理方法有關(guān)。應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)一六測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)。
更新時(shí)間：2021-08-31 
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