臺(tái)式測厚儀參數(shù)

在電鍍及表面處理或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且精確地測定鍍層的厚度，雖然鍍層測厚儀的種類很多，但不管是磁性測厚儀，還是電解式的、庫侖式測厚儀等都達(dá)不到臺(tái)式測厚儀的精確度。臺(tái)式儀器配備SDD探測器，X射線從上向下照射，能夠在測量臺(tái)上對樣品進(jìn)行輕松定位。

臺(tái)式測厚儀參數(shù)

‘儀器特點(diǎn)

• X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務(wù)

• 由于測量距離可以調(diào)節(jié)（最大可達(dá) 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

• 通過可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測試

• 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）

• 操作簡單且性價(jià)比高。

• 自下而上進(jìn)行測量，從而快速、簡便地定位樣品

• 廣泛適用：為各個(gè)行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號

• 以非破壞性方式進(jìn)行鍍層厚度測量與元素分析

• 帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機(jī)型，可對極薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測量

應(yīng)用領(lǐng)域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

手表、精密儀表制造行業(yè)

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析  

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽離子檢測

其他樣品鍍層測試