產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION產(chǎn)品中心/ products
簡要描述:PCB板材測厚儀XTD是一款于檢測各種異形件,特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、PCB線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析光譜儀。儀器采用超大樣品腔設計,搭配微聚焦X射線管,可以滿足PCB板復雜的測試要求。
行業(yè)應用:PCB 板材(鍍銅鎳金)
PCB( Printed Circuit Board),中文名稱為印制電路板,又稱印刷線路板,是重要的電子部件,是電子元器件的支撐體,是電子元器件電氣連接的載體。由于它是采用電子印刷術制作的,故被稱為“印刷”電路板。
PCB 的上游原材料主要包括覆銅板、銅箔、銅球、半固化片、金鹽、油墨、干膜及其他化工材料。
PCB 的一個顯著特點是下游應用領域覆蓋面廣泛,涵蓋通信、計算機、航空航天、工控醫(yī)療、消費電子、汽車電子等。其中通信、計算機和消費電子已成為 PCB 三大主流應用領域。
在PCB的生產(chǎn)過程中,各種電子元器件很多都有用到電鍍工藝,其中鍍層的厚度的薄厚也直接影響著PCB板的質量,所以在PCB板的生產(chǎn)過程中,能實時的監(jiān)控PCB板材中的電鍍層厚度是非常重要的,但是因為PCB板復雜的設計,一般的測厚儀很難滿足PCB板材行業(yè)的測試要求。
我公司設計、研發(fā)、生產(chǎn)的PCB板材測厚儀XTD 是一款專門為大型板材,特別是 PCB 板材類電鍍層厚度測量的光譜測厚儀,儀器配置超大腔體設計,可滿足市面上 95%以上的板材類鍍層檢測,搭配無感自動對焦,可實現(xiàn)對貼片電阻,電容,二極管,針腳等微小配件的高精度微區(qū)定位檢測,同時儀器采用無損變焦檢測技術,有手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍 0-90mm,*可以滿足復雜的PCB板材直接測量,無需對PCB板材進行拆解測量。
無需對PCB板材上的電子元器件進行拆解,就可以直接測量
PCB板材測厚儀XTD儀器優(yōu)勢
1)搭載微聚焦 X 射線發(fā)生器和先進的光路轉換聚焦系統(tǒng),小測量面積達 0.03mm²
2)擁有無損變焦檢測技術,手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽
深度范圍 0-90mm
3)核心 EFP 算法,可對多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準、穩(wěn)的做出數(shù)
據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上 Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準檢測層 Ni 和第三層 Ni 的厚度)
4)配備高精密微型移動滑臺,可實現(xiàn)多點位、多樣品的精準位移和同時檢測
5)裝配高效率正比接收器,即便測量 0.03mm²以下的樣品,幾秒鐘也可達到穩(wěn)定性
6)可同時分析 23 個鍍層,24 種元素,測量元素范圍:氯 Cl(17)- 鈾 U(92),涂
鍍層分析范圍:氯 Cl(17)/鋰 Li(3)- 鈾 U(92),涂鍍層低檢出限:0.005μm
7)人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作
8)標配 2 準直器自由選擇,小測量面積可達 0.03mm²
9)配有微光聚集技術,近測距光斑擴散度小于 10%
儀器技術參數(shù)
1. 元素分析范圍:氯(Cl)- 鈾(U)
2. 涂鍍層分析范圍:氯(Cl)/鋰 Li(3)- 鈾(U)
3. 厚度低檢出限:0.005μm
4. 成分低檢出限:1ppm
5. 小測量直徑 0.2mm(小測量面積 0.03mm²)
6. 對焦距離:0-90mm
7. 樣品腔尺寸:530mm*570mm*150mm
8. 儀器尺寸:760mm*550mm*635mm
9. 儀器重量:100KG
10. 多元迭代 EFP 核心算法
專業(yè)的研發(fā)團隊在 Alpha 和 Fp 法的基礎上,計算樣品中每個元素的一次熒光、二
次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出 EFP 核心算法,結
合先進的光路轉換技術、變焦結構設計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的
標樣來校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的
厚度及成分含量。
單涂鍍層應用:如 Ni/Fe、Ag/Cu 等
多涂鍍層應用:如 Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn 等
合金鍍層應用:如 ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu 等
合金成分應用:如 NiP/Fe,通過 EFP 算法,在計算鎳磷鍍層厚度的同時,還可精
準分析出鎳磷含量比例。
重復鍍層應用:不同層有相同元素,也可精準測量和分析。
如釹鐵硼磁鐵上的 Ni/Cu/Ni/FeNdB,層 Ni 和第三層 Ni 的厚度均可測量。